头影测量是正畸临床重要的诊断依据，正畸医师用头影测量描述面型、制定治疗计划及评估治疗效果。然而，头影测量学的困扰难学是正畸医师的普遍共识，其中最为关键的是定点。定点不准，谈何测量，其结果也不可靠。头影测量结果的好坏最终取决于你掌握该技术的能力。那么，如何精准的描绘头颅侧位片?如何精准确定解剖标志点?就需要学习手工描图和测量方法与的技能。因而，本课程愿意帮助大家学习掌握头影测量技术临床应用的一些思维方法和操作技能，但它仅仅是一个开端------
内容：
1、 从头颅解剖、头颅放射解剖观，学习掌握描绘颅、颌、面的解剖结构，掌握精准定点的方法;(理论与实操)
2、 Tweed-Merrifield个性化诊断系统介绍
3、 病例分析，个性化诊断系统的应用 (理论与实操)
主讲： 孙燕 大连医科大学 口腔正畸学 硕士生导师
韩宗超 台湾超人齿科
助教： 于吉冬等10名助理教官
时间： 2014年9月2日 8：30--17:00
地点： 大连国际会议中心
学费： 8月15日前 民营口腔会员1500元，非会员1800元。
8月15日后 民营口腔会员1800元，非会员2000元。
说明：本班只招收20名学员，由10名助理教官手把手描图定点，绝对实战!
注册费的交纳方式：汇款时请务必注明：“实用口腔头影测量技术+姓名+联系方式”!